Hotline: 0908 173 345
Mặt nạ phổ phát và ACLR theo 3GPP TS 38.104: giới hạn 45 dB ở FR1, 28/26 dB ở FR2, cách đọc bảng OBUE và dải động máy phân tích cần có. [...]
Kiểm thử SPI flash: đọc SFDP theo JESD216, đếm đúng 8 chu kỳ chờ, bẫy định thời Quad-SPI và chọn kênh analog hay kênh số trên máy hiện sóng Keysight. [...]
Đo hệ số phẩm chất Q bằng VNA: phân biệt Q có tải và Q không tải, vì sao ghép yếu −40 dB là chuẩn, quy trình 6 bước và cách chọn máy Keysight. [...]
Hiệu chỉnh xung điều khiển qubit: nguồn gốc méo dạng, bù trước predistortion bằng bộ lọc IIR và FIR, cùng yêu cầu đặt lên AWG. [...]
Nguồn đa kênh ATE: trình tự bật nguồn, bảo vệ OVP OCP, cảm biến từ xa và đo tích hợp với nguồn mô-đun N6700 cùng N6705C của Keysight. [...]
Đo tín hiệu biên độ nhỏ: dùng chế độ high resolution, trung bình hoá dạng sóng và giới hạn băng thông, và khi nào cần máy 10 bit hay 14 bit. [...]
Đo phục hồi ngược Qrr bằng phép thử hai xung theo JESD24-10 và IEC 60747-2, so sánh điốt Si với SiC Schottky và chọn đúng thiết bị. [...]
Đo miễn nhiễm bức xạ theo IEC 61000-4-3: mức thử V/m, dải tần, hiệu chuẩn trường đồng nhất 16 điểm và tiêu chí dung sai 0/+6 dB. [...]
Kiểm thử I3C: open-drain và push-pull, in-band interrupt, gán địa chỉ động, tương thích ngược I2C và cách chọn máy hiện sóng giải mã I3C. [...]
Phân tích dung sai Monte Carlo: định nghĩa năng suất, chọn số phép thử theo mức tin cậy, tối ưu năng suất RF và phân tích độ nhạy trong ADS. [...]
Username or email address *
Password *
Remember me Log in
Lost your password?