facebook

Tham số S (S-parameters) là gì? Hiểu đúng và hiệu chuẩn VNA khi đo RFIC

Ở tần số thấp, kỹ sư mô tả mạng hai cổng bằng tham số Z, Y hay H. Tất cả đều đòi hỏi điều kiện hở mạch hoặc ngắn mạch tại cổng. Lên đến vùng RF/vi sóng, hai điều kiện đó gần như không thực hiện được. Dây dẫn trở thành đường truyền, ký sinh cảm–dung chi phối, và linh kiện tích cực dễ tự kích khi bị hở/ngắn. Đó là lý do ngành cao tần chuyển sang tham số S (scattering parameters), đại lượng đo được trực tiếp trong môi trường phối hợp trở kháng 50 Ω.

Tham số S là gì?

Tham số S mô tả quan hệ giữa sóng tới (incident) và sóng phản xạ/truyền qua (reflected/transmitted) tại các cổng của mạng. Thay vì quan hệ áp–dòng. Với mạng hai cổng, ma trận S gồm bốn phần tử:

  • S11 — hệ số phản xạ tại cổng 1 (đầu vào). Liên hệ trực tiếp với return lossVSWR.
  • S21 — hệ số truyền từ cổng 1 sang cổng 2. Là insertion loss (mạch thụ động) hoặc gain (mạch khuếch đại).
  • S12 — truyền ngược từ cổng 2 về cổng 1, thể hiện độ cách ly (isolation). Với linh kiện đơn hướng lý tưởng, S12 rất nhỏ.
  • S22 — hệ số phản xạ tại cổng 2 (đầu ra).

Mỗi phần tử là số phức (biên độ + pha) và thay đổi theo tần số. Nên phép đo luôn là một quét tần số. Biên độ thường biểu diễn theo dB: |S| (dB) = 20·log10|S|. Ví dụ S11 = −20 dB nghĩa là chỉ ~1% công suất bị phản xạ, phối hợp trở kháng tốt.

4 tham số S (S11, S21, S12, S22) của mạng hai cổng
Bốn tham số S và ý nghĩa kỹ thuật của từng đại lượng

Vì sao pha cũng quan trọng?

Nhiều kỹ sư chỉ nhìn biên độ. Nhưng thông tin pha mới là thứ cho phép de-embedding, mô hình hoá và ghép nối tầng. Không có pha thì không thể chuyển sang miền thời gian (TDR ảo). Không thể bóc tách ảnh hưởng của đồ gá. Cũng không thể ghép ma trận S của nhiều tầng để dự đoán hệ thống. Đây là lý do máy phân tích mạng vector (VNA), đo cả biên độ và pha. Là thiết bị bắt buộc, khác với máy phân tích phổ chỉ đo biên độ.

Vì sao BẮT BUỘC hiệu chuẩn VNA?

Phép đo thô của VNA chứa sai số hệ thống lặp lại được và có thể loại bỏ bằng toán học, gồm ba nhóm chính:

  • Directivity — cầu định hướng không tách hoàn hảo sóng tới/phản xạ, gây sai số lớn nhất khi đo DUT phối hợp tốt (S11 nhỏ).
  • Source/Load match — trở kháng nguồn và tải không đúng 50 Ω, gây phản xạ nhiều lần giữa máy và DUT.
  • Frequency response (tracking) — đáp ứng biên độ/pha không phẳng của đường đo theo tần số.

Hiệu chuẩn là quá trình đo các chuẩn đã biết để giải ra mô hình sai số, sau đó máy trừ ngược sai số khỏi mọi phép đo sau đó. Mặt phẳng chuẩn (reference plane) sau hiệu chuẩn nằm đúng tại đầu nối/đầu probe — nghĩa là kết quả phản ánh DUT chứ không phải cáp và đồ gá.

3 nhóm sai số hệ thống VNA và so sánh SOLT, TRL, ECal
Ba nhóm sai số hệ thống và cách chọn phương pháp hiệu chuẩn

SOLT, TRL hay ECal — chọn cái nào?

  • SOLT (Short–Open–Load–Thru): dùng bộ chuẩn cơ khí như bộ kit hiệu chuẩn cơ khí Keysight 85033E. Phổ biến, phù hợp đầu nối đồng trục tiêu chuẩn (3.5 mm, N). Độ chính xác phụ thuộc chất lượng chuẩn và tay nghề (lực siết, độ sạch).
  • TRL (Thru–Reflect–Line): dựa trên đường truyền, rất mạnh ở tần số cao và cho môi trường phi đồng trục — đo on-wafer, microstrip, đồ gá riêng. Ưu điểm là không cần biết chính xác chuẩn phản xạ.
  • ECal (electronic calibration): mô-đun bán dẫn tự chuyển trạng thái chuẩn, ví dụ mô-đun hiệu chuẩn điện tử ECal Keysight N4692A. Chỉ cần một lần kết nối cho toàn bộ quy trình → nhanh hơn, ít thao tác tay, giảm mài mòn đầu nối và sai số do người dùng. Đây là lựa chọn thực tế nhất cho lab hiệu chuẩn thường xuyên hoặc dây chuyền sản xuất.
Mô-đun hiệu chuẩn điện tử ECal Keysight N4692A
Mô-đun hiệu chuẩn điện tử ECal Keysight N4692A

Đo RFIC: on-wafer probing và de-embedding

Với RFIC, DUT nằm trên wafer nên không thể gắn đầu nối đồng trục. Quy trình thực tế gồm:

  1. Probe cao tần (GSG — ground–signal–ground) tiếp xúc pad trên wafer, giữ liên tục đường dẫn đất để tránh cảm ứng ký sinh.
  2. Hiệu chuẩn tại đầu probe bằng chuẩn trên tấm ISS (impedance standard substrate) hoặc TRL — đưa mặt phẳng chuẩn tới ngay mũi probe.
  3. De-embedding cấu trúc dẫn vào (pad, đường dẫn) bằng các cấu trúc phụ open/short/thru để tách riêng đặc tính của chính linh kiện.

Bỏ qua bước de-embedding là lỗi phổ biến khiến kết quả RFIC bị lệch, đặc biệt ở tần số cao nơi ký sinh của pad chiếm tỉ trọng lớn.

Chọn máy phân tích mạng vector phù hợp

Máy phân tích mạng vector Keysight E5061B
Máy phân tích mạng vector Keysight E5061B (5 Hz – 3 GHz)

Việc chọn máy phân tích mạng vector nên bắt đầu từ dải tần và loại DUT:

Ngoài dải tần, hãy cân nhắc: dải động (dynamic range) đủ để đo isolation sâu, độ ổn định nhiệt, số cổng, và khả năng tự động hoá qua LAN/GPIB nếu tích hợp vào hệ ATE.

Năm sai lầm thường gặp khi đo tham số S

  1. Không hiệu chuẩn lại sau khi đổi cáp/nhiệt độ — mô hình sai số cũ không còn đúng.
  2. Siết đầu nối sai lực — dùng cờ lê lực đúng chuẩn; siết tay gây sai số lặp lại kém.
  3. Đặt mức công suất quá cao khi đo mạch tích cực → nén (compression), số liệu không còn tuyến tính.
  4. Bỏ qua de-embedding khi có đồ gá/pad.
  5. IF bandwidth quá rộng để chạy nhanh → nhiễu nền cao, không đo nổi isolation sâu. Giảm IFBW hoặc tăng trung bình (averaging).

Kết luận

Tham số S là ngôn ngữ chung của kỹ thuật cao tần, nhưng con số chỉ đáng tin khi quy trình hiệu chuẩn đúng và mặt phẳng chuẩn được đặt đúng chỗ. Với phòng lab đo RFIC, kết hợp VNA phù hợp dải tần, ECal để giảm sai số thao tác và quy trình de-embedding bài bản sẽ tạo ra khác biệt lớn về độ tin cậy dữ liệu.

Techmaster Electronics — đại lý uỷ quyền của Keysight Technologies tại Việt Nam — cung cấp VNA, bộ chuẩn hiệu chuẩn chính hãng kèm hiệu chuẩn ISO/IEC 17025 và tư vấn cấu hình theo bài toán đo. Liên hệ 0908 173 345 để được hỗ trợ kỹ thuật.

Biên soạn bởi Khanh Nguyen — Marketing Manager, Techmaster Electronics JSC.

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *

Liên hệ Techmaster
Liên hệ chúng tôi
support techmaster