Phần mềm Facility Net cung cấp giải pháp giám sát môi trường toàn diện với hiển thị dữ liệu lịch sử và thời gian thực cho tất cả các máy đếm hạt của Particle Measuring Systems, máy giám sát ô nhiễm phân tử và các sản phẩm khác nhau của bên thứ ba.
Các tùy chọn hiển thị, truy xuất và xuất dữ liệu linh hoạt cùng với các phương pháp tích hợp hệ thống cho phép sử dụng Phần mềm FacilityNet như một giải pháp giám sát độc lập hoặc như một thành phần phụ trong một hệ thống lớn hơn gồm các sản phẩm giám sát môi trường và xây dựng tự động hóa. Phần mềm FacilityNet dễ dàng thay đổi quy mô để hỗ trợ cài đặt, bao gồm mọi nơi từ một thiết bị
Đọc thêm
cho đến hơn 250 điểm mẫu trên một máy tính trạm thời gian thực. Nhiều trạm thời gian thực có thể được nối mạng với nhau thành một hệ thống lớn hơn và được xem từ nhiều trạm mạng, mang đến cho người dùng một đường dẫn đơn giản để mở rộng hệ thống hoặc đáp ứng các nhu cầu phức tạp.
Phần mềm FacilityNet cho phép bạn tạo cấu hình từ bàn làm việc của mình để bạn có thể theo dõi dữ liệu, dự đoán lỗi và nhận thông báo về cảnh báo.
Tính năng
- Tương thích với Windows® 10 và Windows 7 Professional (32-bit và 64-bit) cũng như Windows Server® 2012
- Khả năng kết nối mạng Ethernet sử dụng giao thức điều khiển truyền dẫn/giao thức Internet (TCP/IP)
- Xuất sang SQL ServerTM 2005 (Professional hoặc Express)
- Cấu hình thiết bị on-the-fly
- Các hoạt động toán học và thống kê, bao gồm giảm nhật ký và hiệu quả của bộ lọc
- Dữ liệu được truy xuất và theo thời gian thực ở nhiều định dạng bao gồm trạng thái, giá trị hiện tại, biểu đồ trực tiếp và được truy xuất, bảng tính dạng bảng kiểm toán và bản đồ
Ứng dụng
- Giám sát môi trường cơ sở
- Kiểm tra bộ lọc
- Giám sát tuân thủ phòng sạch
- UPW và giám sát hệ thống phân phối hóa chất
- Quản lý dữ liệu môi trường tập trung
- Giao tiếp OPC với BMS, SCADA hoặc hệ thống quản lý dữ liệu khác
- Các trạm mạng cho phép phân tích dữ liệu phòng sạch từ xa
Vật liệu hỗ trợ
Bảng thông số kỹ thuật
FacilityNet Specification Sheet >Ghi chú ứng dụng & tài liệu quảng cáo
Paper Series: Guides to Particle Technology >