Author Archives: Khanh Nguyen

Keysight 34405A trong các ngành: điện tử, sản xuất, R&D, giáo dục

Keysight 34405A đã ngừng sản xuất: thông số 5½ digit, ứng dụng điện tử, sản xuất, R&D, giáo dục và hướng thay thế bằng 34450A/EDU34450A. [...]

Ứng dụng đo lường thực tế với Keysight N4001A: quy trình đo LNA

Keysight N4001A là nguồn tạp âm SNS 10 MHz – 18 GHz, ENR 15 dB, đo DUT tới 30 dB: nguyên lý Y-factor, ENR tự nạp, quy trình đo LNA bảy bước. [...]

Ứng dụng đo lường thực tế với Keysight N9915A FieldFox

Keysight N9915A: quy trình đo cáp, ăng-ten, dò nhiễu phổ tới 9 GHz. Model ngừng sản xuất, hướng thay thế N9915C. N9915A thông số, liên hệ báo giá. [...]

So sánh Keysight E3642A với các model cùng dòng E3640 series

Keysight E3642A 50W, 0-8V/5A hoặc 0-20V/2,5A, so với E3640A, E3641A, E3643A, E3644A, E3645A: bảng thông số và cây quyết định chọn đúng model. [...]

So sánh Keysight MSOX2002A trong dòng 2000X: chọn cấu hình

Keysight MSOX2002A so với DSOX2002A, MSOX2004A, MSOX2012A, MSOX2022A: băng thông 70/100/200 MHz, kênh analog, 8 kênh số, cách chọn đúng cấu hình. [...]

Tổng hợp bộ lọc RF: từ mẫu đáp ứng tới mạch thực

Tổng hợp bộ lọc RF từ nguyên mẫu Chebyshev: chọn bậc và gợn, biến đổi thông dải, Q linh kiện, tối ưu dung sai và kiểm chứng bằng VNA. [...]

Thử nghiệm an toàn điện: dòng rò chạm, điện trở cách điện và thử cao áp hipot

Thử nghiệm an toàn điện theo IEC 61010-1 và IEC 60601-1: giới hạn dòng rò chạm, ground bond, hipot, điện trở cách điện và vai trò thiết bị Keysight. [...]

Kiểm thử UCIe cho chiplet: giao tiếp die-to-die và ngân sách kênh trong gói

Kiểm thử UCIe cho chiplet: ba lớp giao thức, gói tiêu chuẩn và gói tiên tiến, ngân sách kênh theo VTF, mặt nạ mắt và quy trình mô phỏng trước, đo sau. [...]

Đo MIMO và thông lượng lớp vật lý: mô phỏng kênh pha-đinh và cấu hình nhiều lớp

Đo MIMO và thông lượng 5G theo TS 38.101-4: kênh TDL, Doppler, ma trận tương quan, số lớp không gian, ngưỡng SNR 70% và các bẫy khi đo. [...]

De-embedding đồ gá on-wafer: chuẩn ISS, LRRM và mặt phẳng tham chiếu

De-embedding đồ gá on-wafer gồm hai tầng: hiệu chuẩn đầu probe trên chuẩn ISS bằng SOLT, LRRM, rồi gỡ pad, đường dẫn để tới cực transistor. [...]